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2026/04/06 週刊東洋経済 2026年4月11日号

不安の世代: スマホ・SNSが子どもと若者の心を蝕む理由

新商品

ISBN： 4794228198

発売日： 2026/1/27

出版社： 草思社

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著者について

ジョナサン・ハイト(Jonathan Haidt)

ニューヨーク大学スターン・スクール・オブ・ビジネスの倫理リーダーシップ教授。1992年ペンシルベニア大学にて社会心理学の博士号を取得後、16年間にわたりバージニア大学で教鞭をとった。道徳や政治心理学を専門とし、著書『社会はなぜ左と右にわかれるのか:対立を超えるための道徳心理学』(邦訳は紀伊國屋書店刊)を執筆。グレッグ・ルキアノフとの共著『傷つきやすいアメリカの大学生たち:大学と若者をダメにする「善意」と「誤った信念」の正体』(邦訳は草思社刊)で探求したテーマをさらに深めて執筆したのが、本書『不安の世代』である。



西川 由紀子(にしかわ・ゆきこ)

神戸女学院大学文学部英文学科卒業。立教大学大学院異文化コミュニケーション研究科修了。ITエンジニア、青年海外協力隊(ベリーズ)を経て翻訳家に。大阪府在住。訳書に『傷つきやすいアメリカの大学生たち』(草思社)、『理系アタマがぐんぐん育つ 科学の実験大図鑑』(新星出版社)、『子どもを救う親子の会話』(評論社)など。